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果果儀器助力國儀量子SEM掃描電鏡現(xiàn)場測試

更新時(shí)間:2023-08-25      點(diǎn)擊次數(shù):986

國儀量子SEM掃描電鏡現(xiàn)場測試

掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。

目前, 掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡(SEM3200)是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。




↑果果儀器 SEM冷熱臺(tái)↑


果果儀器_SEM冷熱臺(tái) 是一種在掃描電子顯微鏡(SEM)標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上(無需改造電鏡內(nèi)部),提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上的樣品進(jìn)行控溫,穩(wěn)定后溫控精度最高可達(dá)±0.1℃ 可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍:-185~200℃ ,滿足原位高低溫材料相變微觀表征。

SEM原位冷熱臺(tái)適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進(jìn)行高低溫結(jié)構(gòu)研究,固定在現(xiàn)有樣品臺(tái)上。

果果儀器為國儀量子定制SEM冷熱臺(tái),與國儀量子鎢燈絲掃描電鏡(SEM3200)配套工作,進(jìn)行現(xiàn)場測試。






國儀量子SEM掃描電鏡-180℃~100℃測試現(xiàn)場



溫度控制穩(wěn)定,精度±0.1℃,加熱過程中無電磁干擾



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